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  • Nicomp Z3000 ZetaZeta電位與粒徑分析儀
    專為復雜體系提供高精度粒度解析 儀器型號:Nicomp Z3000 Zeta電位/納米粒度分析儀 工作原理: 粒度檢測: 動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS) Zeta電位檢測:帶相位分析的多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS)
    更新時間:2024-08-26型號:Nicomp Z3000 Zeta
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