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  • Z3000審計最終粒度儀
    審計最終粒度儀：專為復雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-10.0μm。
    更新時間：2024-08-26型號：Z3000
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  • A7000 APS大粒子計數器
    大粒子計數器工作原理：單顆粒光學傳感技術（Single Particle Optical Sizing，SPOS）,檢測范圍：0.5 μm – 400 μm
    更新時間：2024-08-26型號：A7000 APS
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  • A7000光阻法顆粒計數器
    光阻法顆粒計數器型號：AccuSizer 780 A7000 APS 全自動顆粒計數/粒度分析儀，工作原理：單顆粒光學傳感技術（Single Particle Optical Sizing，SPOS）。
    更新時間：2024-08-26型號：A7000
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  • ZETA電位粒度分析儀
    ZETA電位粒度分析儀：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）。
    更新時間：2024-08-26型號：
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  • 高濃度顆粒計數
    高濃度顆粒計數：只需通過鼠標的單擊操作，即能幫助用戶在短時間 內完成從進樣到檢測，完成清洗系統的所有操作，使用戶獲得重要的粒徑分布信息。
    更新時間：2024-08-26型號：
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