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粒度儀

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AccuSizer 780 A7000 APS大乳粒分析儀

大乳粒分析儀工作原理：單顆粒光學傳感技術（Single Particle Optical Sizing，SPOS）,檢測范圍： 0.5 μm – 400 μm

更新時間：2024-08-26型號：AccuSizer 780 A7000 APS
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PSS光阻法粒度儀

PSS光阻法粒度儀：專為復雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-10.0μm。

更新時間：2024-08-26型號：
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Nicomp Z3000 ZetaZETA電位分析儀

ZETA電位分析儀工作原理：粒度檢測：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新時間：2024-08-26型號：Nicomp Z3000 Zeta
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Nicomp 380 N3000納米激光粒度儀

納米激光粒度儀：專為復雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-10.0μm。

更新時間：2024-08-26型號：Nicomp 380 N3000
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Nicomp Z3000 ZetaZeta電位與粒徑分析儀

專為復雜體系提供高精度粒度解析儀器型號：Nicomp Z3000 Zeta電位/納米粒度分析儀工作原理：粒度檢測：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新時間：2024-08-26型號：Nicomp Z3000 Zeta
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